性能指标符合以下标准:
GB/T 2423.22-2012 环境试验 第 2 部分: 试验方法 试验 N: 温度变化;
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第 2 部分: 试验方法 试验 B: 高温。
4.1.14 设备需支持 SECS/GEM 协议
4.1.15 MTBA (平均故障间隔周期)
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高低温PCIE老化柜,恒温PCIE老化箱,高低温PCIE老化箱,高低温PCIE |
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