欢迎进入一品仪器设备有限公司网站!
一品仪器 - 产品展示
yipin instrument-Products
4
高低温PCIE老化柜

​性能指标符合以下标准:

GB/T 2423.22-2012  环境试验 第 2 部分:  试验方法 试验 N:  温度变化;

GB/T 2423.2-2008  电工电子产品环境试验 第 2 部分:  试验方法 试验 B:  高温。

4.1.14  备需支持 SECS/GEM 协议

4.1.15 MTBA  (平均故障间隔周期)

 

高低温PCIE老化柜

  • 详情说明

​高低温PCIE老化柜,恒温PCIE老化箱,高低温PCIE老化箱,高低温PCIE











​​









​​







Copyright © 2017 东莞市一品仪器设备有限公司 版权所有 本站素材及相关资源均来源互联网,如有侵权请速告知,我们将会在24小时内删除*【Gmap】 访问量:后台管理 粤ICP备16117078号
服务热线
0769-84393814
产品符合ISO、ASTM、DIN、EN、GB、BS、JIS、ANSI、UL、等国际测试标准
专注试验设备多年
关闭
点击这里给我发消息
在线咨询
点击这里给我发消息
技术咨询