欢迎进入一品仪器设备有限公司网站！
一品仪器 - 产品展示
yipin instrument-Products
您的位置: 首页 -> 产品展示
一品仪器专业为您提供高质量，性价比高的精密测试仪器    全球免费咨询热线：185-6655-5562
高低温PCIE老化柜

​性能指标符合以下标准：

GB/T 2423.22-2012  环境试验 第 2 部分：  试验方法 试验 N：  温度变化；

GB/T 2423.2-2008  电工电子产品环境试验 第 2 部分：  试验方法 试验 B：  高温。

4.1.14  设备需支持 SECS/GEM 协议

4.1.15 MTBA  (平均故障间隔周期)

...

查看详情+
高温RDT老化柜
...

查看详情+
SSD固态硬盘快速温变测试机
​SSD固态硬盘快速温变测试机,SSD固态环境测试箱,SSD快速温变试验箱,ssd...

查看详情+
SSD高低温老化试验箱

​性能指标符合以下标准：

GB/T 2423.22-2012  环境试验 第 2 部分：  试验方法 试验 N：  温度变化；

GB/T 2423.2-2008  电工电子产品环境试验 第 2 部分：  试验方法 试验 B：  高温。

4.1.14  设备需支持 SECS/GEM 协议

4.1.15 MTBA  (平均故障间隔周期)

...

查看详情+
总数:166   总页数:10   当前是:第10页 第一页  上一页  下一页  最后页转到
Copyright © 2017 东莞市一品仪器设备有限公司 版权所有 本站素材及相关资源均来源互联网，如有侵权请速告知，我们将会在24小时内删除*【Gmap】 访问量： 【后台管理】 粤ICP备16117078号
服务热线
0769-84393814
产品符合ISO、ASTM、DIN、EN、GB、BS、JIS、ANSI、UL、等国际测试标准
专注试验设备多年
关闭
点击这里给我发消息
 在线咨询
点击这里给我发消息
技术咨询