欢迎进入一品仪器设备有限公司网站!
一品仪器 - 产品展示
yipin instrument-Products
4新闻中心
您的位置:首页  ->  新闻中心

芯片可靠性如何测试?


芯片可靠性如何测试?

一般来说,可靠度是产品以标准技术条件下,在特定时间内展现特定功能的能力,可靠度是量测失效的可能性,失效的比率,以及产品的可修护性。根据产品的技术规范以及客户的要求,我们可以执行MIL-STD, JEDEC, IEC, JESD, AEC, and EIA等不同规范的可靠度的测试。

测试机台种类
高温贮存试验 (HTST, High Temperature Storage test)
低温贮存试验(LTST, Low Temperature Storage test)
温湿度贮存试验 (THST, Temperature & Humidity Storage test)
 温湿度偏压试验 (THB, Temperature & Humidity with bias test)
高温水蒸汽压力试验 (Pressure Cooker test (PCT/UB-HAST)
高加速温湿度试验 (HAST, Highly Accelerated Stress test )
温度循环试验 (TCT, Temperature Cycling test)
温度冲击试验 (TST, Thermal Shock test )
高温寿命试验 (HTOL, High Temperature Operation Life test )
高温偏压试验 (BLT, Bias Life test)
回焊炉 (Reflow Test)

一品一直专注于可靠性测试设备的技术,客户产业遍及于新能源、电子、半导体、LED光电、太阳能光伏、橡胶塑胶、通讯、航空、电池、汽车…等科技产业,从产品研发到售后服务,每个环节之间,都以客户的观点与需求作为思考的出发点,为众多客户提供便利。

[返回]   
Copyright © 2017 东莞市一品仪器设备有限公司 版权所有 本站素材及相关资源均来源互联网,如有侵权请速告知,我们将会在24小时内删除*【Gmap】 访问量:后台管理 粤ICP备16117078号
服务热线
0769-84393814
产品符合ISO、ASTM、DIN、EN、GB、BS、JIS、ANSI、UL、等国际测试标准
专注试验设备多年
关闭
点击这里给我发消息
在线咨询
点击这里给我发消息
技术咨询